一、冲击试样缺口投影仪XT-50概述：

XT-50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-1994《金属夏比冲击试验方法》中冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。

随着国内工业技术的发展，越来越多的行业已经开始执行《金属夏比冲击试验方法》该标准对试样要求相当严格，所以在整个试验过程中，试样的加工是否合格会直接影响试验结果。如果试样加工质量不合格，那么其试验结果是不可信的，特别是试样缺口的微小变化可能会引起试验结果的巨大陡跳，尤其是在试验的临界值时，会引起产品的合格或报废两种截然相反的不同结局。为保证试样缺口的合格，其质量检验是一个重要的控制手段，目前，用光学投影放大检验是尤其切实可行的方法。

二、冲击试样缺口投影仪XT-50工作原理：

本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。

根据需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影仪上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。

三、冲击试样缺口投影仪XT-50主要参数：

投影屏直径：  180mm  

工作台尺寸：  

方工作台尺寸：  110×125mm  

圆工作台直径：  90mm  

工作台玻璃直径：  70mm  

工作台行程：  

纵向：  ±10mm  

横向：  ±10mm  

升降：  ±12mm（无刻度）  

工作台转动范围：  0-360°（无刻度）  

放大倍数：  

仪器放大倍率：  50X  

物镜放大倍率：  2.5X  

投影物镜放大倍率：  20X  

光源（卤钨灯）：  12V 100W  

外形尺寸：  515×224×603mm（长×宽×高）

重量：  约18Kg